BKTEM-Dx全自動熱電性能分析係統的詳細資料：

BKTEM-D1熱電性能分析係統

關鍵詞：熱電材料，Seebeck係數，電導率， 電阻率，V-1裝置

產品介紹：     

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的領軍設備，是國家材料計劃中最前沿裝備其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀，不僅可以用於塊體材料同時也可以用於薄材料的測試，是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。

     對於熱電材料的研究，熱電性能測試是不可或缺的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)係列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck係數及電導率。主要原理和特點如下:

該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控製溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck係數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

一、適用範圍：

1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck係數及電導率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自身分析軟件，獨立分析，過程自動控製，界麵友好。

6、國內高等院校材料係研究或是熱電材料生產單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電製冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域.

二、技術特點：

·解決高溫下溫控精度不準的問題，靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。

溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。

每次可測試1-3個樣品.
采用高級數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的幹擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克係數和電阻率。
三：主要技術：

測量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選

同時測試樣品數量：1個，2個，3個 可選

控溫精度：0.5K（溫度波動:≤±0.1℃）

測量原理：塞貝克係數：靜態直流電；電阻係數：四端法

測量範圍：塞貝克係數：0.5μV/K_25V/K；電阻係數：0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率：塞貝克係數：10nV/K;電阻係數： 10nOhm

測量精度：塞貝克係數：＜±6％；電阻係數：＜±5％

樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導距: ≥6 mm

電   流: 0 to 200 Ma

氣   氛：0 to 160 mA

加熱電極相數/電壓：單相，220V，

夾具接觸熱阻：≤0.05 m2K/W

溫度檢測：采用J、K型熱電偶